为什么针对不同的产品需要发布不同的FIT值?
2024-01-23 16:34:125200
FIT(Failure in Time)是基于严格加速测试(遵循JEDEC22-A108标准)和失效模式分析,应用加速因子后的统计外推值。不同产品间的FIT率差异,源自于各产品在压力测试中设备运行小时数的不同。在生成可靠性报告时,我们会上报相应的FIT编号,以便于跟踪与核查。
所有的SiTime产品均遵循统一的基础技术和流程,确保卓越品质。截至2015年10月,SiTime对数千个MEMS振荡器进行了压力测试,累计测试时间高达3,307,000设备小时,期间无任何故障发生。根据这些数据,我们计算出FIT值为0.88,MTBF(平均无故障时间)为11.4亿小时,进一步证明了MEMS振荡器在可靠性与耐久性方面的出色表现。
点赞
微信分享
链接分享

复制成功
热门视频
(第一部分)人形机器人的“同步命脉”:如何用精确同步破解时钟漂移与异构控制难题本视频深入讲解了人形机器人在从实验室走向真实世界时所面临的核心挑战,并分析了分布式系统中传感器与执行器时钟漂移带来的同步难题。同时拆解了异构计算架构下的高层规划、中层控制、低层关节控制及独立安全监控等子系统,强调精确时间同步是稳定运行的关键。
SiTime 超低抖动70fs差分振荡器SiT9501如何应用在异构计算系统本视频介绍异构计算(HC)、HC子系统中的SITime MEMS硅晶振有哪些需求,同时揭开超低抖动70fs差分振荡器SiT9501为异构计算系统带来的种种益处。
SiTime 差分振荡器如何应用于100G~800G的光模块本视频深入剖析了SiTime为满足100G、400G和800G光模块定时要求而精心打造的创新解决方案,助力网络性能迈向新高度。
SiTime 差分振荡器相位噪声测量教程本视频介绍如何充分利用相位噪声分析仪对SiTime 差分振荡器进行最准确的相位噪声测量。
热门文章
厂商技术支持
收藏网址
400-888-2483



